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汎銓科技成立於2005年7月,設置有完善的實驗室,配備全套分析設備,包括電性故障分析的EMMI、InGaAs、OBIRCH,結構分析的FIB、FE-SEM、TEM、AFM各種分析儀器,提供ICdesign house、TFT-LCD、半導體製造業、LCOS、太陽能產業、LED光電產業、傳統產業之產品或元器件的材料與故障分析服務(Material Analysis & Failure Analysis),協助產業界找出設計缺陷和故障成因。 2010年擴展增加IC線路修補(Circuit Repair)服務,建立電路修補經驗豐富的專業工程團隊且引進台灣第一台應用至32奈米之FEI V600CE+,以最充沛的機台數及工程人員提供快速(24小時內回貨)及高品質的服務方式,加速客戶產品商業化,協助客戶迅速完成量產...more
標題 | 2011-11-17 | TEM/EDS分析將提供更高階解析&更快速、精準之交期!