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汎銓半導體矽光子檢測分析 申請全球專利

2024.8.29 新聞公告

經濟日報 翁永全

矽製程走向物理極限,矽光子技術(Silicon Photonics)成為解決摩爾定律瓶頸的關鍵技術。將光學元件以矽製程整合成晶片,訊號由電轉為光,傳輸介質由銅線轉為光波導(waveguide),解決訊號衰減及散熱等問題,也可以有效減少光收發器的尺寸,讓交換器的通道數目得以增加。

汎銓科技表示,無論是AI伺服器或傳統資料中心伺服器,效能提升的瓶頸之一是GPU/CPU/ASIC 等高效能運算(HPC)晶片在大量平行運算時的互連傳輸速度。傳統收發器中有許多複雜的離散元件透過PCB 走線來傳輸電訊號,矽光子技術可以取代為單一顆矽光子晶片,以光訊號傳輸,大幅提升訊號傳輸速度與減少能耗。

汎銓科技董事長柳紀綸。


汎銓在矽光子領域超前部署,與客戶合作發展矽光偵測定位、漏光點矽光衰減量測、矽光斷路偵測等矽光量測方案及失效分析技術,多項重要檢測技術已申請全球專利。矽光子技術以光子取代電子在矽晶片傳遞訊號,由多個光學元件整合成單一光子積體電路,以光波導元件取代銅線作為光子傳輸通道,技術與過去截然不同,汎銓不僅完整掌握,並且深入分析材料組成及相關製程問題。
 

不僅如此,國際AI晶片大廠在台灣擴大研發中心,需要在地化的IC驗證分析服務,汎銓經過嚴格評選,成為就近提供服務的唯一夥伴。據了解,汎銓科技廠域內已有至少三家重量級國際大廠設立專區,甚至由客戶派員及指定的設備進駐協同作業。