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Hitachi Regulus 8220 是最新一代的冷場發SEM,具有最佳的空間解析度與最小的能量發散,是分析先進製程IC失效/異常的最佳利器。
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Samsung Galaxy S8 CPU在6T-SRAM區域,X方向(a)與Y方向(b)的SEM照片。c與d分為a與b照片紅色虛線框的放大照片。
SEM EDS針對前一頁照片d綠色虛線框區域元素分析,結果有偵測到5種元素,分別是a) Cu,b) O,c) Si,d) N與e) Ta。f)為所有元素疊加在一起呈現的結果。g) SEM放大照片,清楚呈現Cu線邊緣的Ta層厚度大約是9.2 nm到11.9 nm。
SEM 陳小姐 分機6211
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