支援7nm節點電晶體電性量測
支援低高溫(-40°C~150°C)測試
同時配備有EBIC、 EBAC與EBIRCH超精細定位能力 (Spot size < 100nm)
SEM真空環境,有效防止樣品氧化
燒針功能,有效控制且實際量測接觸針阻< 30 ohm
N-6000 是針對90-65-45(32) 奈米元件特性量測之奈米級探針量測儀器。
以掃瞄式電子顯微鏡(SEM)配合高精度裝備的驅動器, 直接以精細探針直接接觸元件的線路,量測提供元件的電性特性曲線,例如,單個 MOS電晶體的特性,連接線路阻值等等。
對於半導體元件故障分析及奈米尺度下之各種研究提供直接且正確的資料。
應用:
李先生 分機6858
E-mail: pfa@msscorps.com