車用電子零件驗證
車用電子產品驗證雖然已經發展很多年了,國際規範也相當明確,但近年來汽車電子功能不斷提升,不斷的演進,使得更多業者有意投入更多資源於此。因此汎銓科技在投入可靠度實驗室的建置過程,也將這些應用納入規劃之中。目前車用電子大都以車用電子協會AEC所編製的測試規範為基礎架構,並佐以ISO16750、美軍軍規、JEDEC、IPC等規範,使有意投入車用電子設計製造公司,有一個共用標準。
– AEC車用電子零件驗證的特色
AEC法規較消費型JESD47或其他規範更為嚴格,諸多差異點在於如下:
- • Zero Defect (ZD)的終極目標,AEC-Q004經過多年努力,終於於2020年定稿發行,從系統 (ISO/IATF 16949)、流程、方法、工具、訓練等方向,經過持續改善計畫,將產品推向零不良的目標。
- • 試驗採用環境溫度 (Ambient Temperature) 而非晶片結溫 (Junction Temperature),並以環境溫度區分等級,賣方根據測試的條件規格,決定了未來產品的使用溫度等級。
- • AEC規範重視統計製程管制(SPC),而非單純go/no go的判定,目的在透過SPC以收斂產品使用區間,減少流出風險。
- • 鼓勵產品能Family的使用概念,減少驗證項目或數量。
- • 重視產品壽命預估,根據保固期,調整測試時間,確保可以符合要求。
- • 各項試驗都有明確的允收規格(criteria),而非設計製造的規格。
- • 多數項目的測試數量較多,較嚴格的LTPD水準。
- • 離散元件(Discrete Semiconductors)的環境溫度,最小範圍為-40~125度。
AEC定義之零件Operating Temperature Grades
– 車用電子零件驗證輔導
根據AEC的聲明,AEC委員會沒有認證的機制,也沒有提供認證服務,僅屬於買賣雙方的合約。汎銓科技可靠度實驗室主管,於十多年前開始參與車用電子產品驗證工作,累積豐富經驗,可協助有意加入此領域的客戶,透過詳細且正確的教育訓練,指導各項驗證程序與合理的驗證項目等,有效的降低成本觀念,提高效能,並結合Family的應用,協助客戶做出值得信賴的試驗報告,取得更大的市場。汎銓可靠度實驗室在車用AEC的驗證範疇包括:
- • AEC-Q100:FAILURE MECHANISM BASED STRESS TEST QUALIFICATION FOR INTEGRATED CIRCUITS
- • AEC-Q101:FAILURE MECHANISM BASED STRESS TEST QUALIFICATION FOR DISCRETE SEMICONDUCTORS IN AUTOMOTIVE APPLICATIONS
- • AEC-Q102:FAILURE MECHANISM BASED STRESS TEST QUALIFICATION FOR OPTOELECTRONIC SEMICONDUCTORS IN AUTOMOTIVE APPLICATIONS
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